适用范围:适用于投产边长尺寸 182mm~230mm厚度110-220mm,翘曲度小于3度的硅片,电池片去 PSG 上料及丝印上料内部缺陷检测。
基本功能:电池片缺陷检测主要使用红外线扫相机配合特定的激光源对电池片内部隐裂缺陷进行检测。
- 隐裂模块检测
- 方阻模块检测
- AOI模块检测
- 花篮模块检测
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