适用范围:适用于投产边长尺寸 182mm~230mm厚度110-220mm,翘曲度小于3度的硅片,电池片背P膜色表面及内部缺陷检测
基本功能:电池片缺陷检测主要使用彩色面帧相机或线扫配合特定的光源对电池片表面膜色及缺陷进行检测
- 隐裂模块检测
- 方阻模块检测
- AOI模块检测
- 花篮模块检测
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